2013年01月24日

カネカ、薄膜シリコン太陽電池モジュールのPID試験耐性を実証

【カテゴリー】：新製品/新技術 【関連企業・団体】：カネカ

カネカは23日、同社製の薄膜シリコン太陽電池モジュールが、社内及び第三者機関であるケミトックス（本社・東京都大田区、中山紘一社長）によってPID（電圧誘起出力低下）に対して高い耐性を有することが実証されたと発表した。 PIDとは、結晶Siモジュールで確認されている出力低下現象の一つで、太陽電池モジュールだけでなく太陽光発電システム全体の出力を低下させる恐れがある。太陽電池セルと太陽電池モジュールのフレームとの間に高電圧がかかることによって生じやすく、高温多湿の環境下で起こりやすいとされている。 同社は今回、太陽電池モジュールの国際規格であるIEC規格の試験条件に準拠し、温度60℃、相対湿度85％、印荷電圧システム最大電圧（産業用1000V及び住宅用600V）、試験時間96時間で試験を実施した。この結果、薄膜シリコン太陽電池モジュールがPIDに対して高い耐性があることが実証された。