2020年09月08日 |
東大・京大など、亜酸化窒素薄膜の構造を解明 |
【カテゴリー】:ファインケミカル 【関連企業・団体】:東京大学 |
東京大学大学院 総合文化研究科の羽馬哲也准教授をはじめ京都大学、北海道大学の共同研究チームは8日、特異な電気的性質を持つ亜酸化窒素(N2O)薄膜の構造を分子レベルで解明する方法を開発したと発表した。 これまで困難だった超高真空・極低温の非晶質(アモルファス)薄膜の構造解析が可能になった。真空蒸着法で作られる機能性有機薄膜や宇宙のアモルファス氷星間塵の構造理解への応用も可能になると期待される。 研究チームは、「赤外多角入射分解分光法(赤外MAIRS法)」という新規赤外分光法を用いて、これまで研究が困難だった「超高真空・極低温で作製したアモルファス薄膜」の分子構造を調べる方法を開発した。 開発した装置を用いて6K(-267 ℃)のアモルファス亜酸化窒素(N2O)薄膜を分析したところ、薄膜内でN2O分子は基板法線から平均して65°傾いて配向していることがわかった。 真空蒸着法は有機半導体などの機能性有機薄膜の作製にも用いられている。また極低温基板に真空蒸着法で作製したアモルファスな分子性固体の薄膜は、宇宙を漂う氷星間塵の模擬物質としてよく研究されている。今後、これらの物質について赤外MAIRS法を用いた分析を行うことで研究が大きく発展することが期待できる。 ニュースリリース参照 https://www.hokudai.ac.jp/news/pdf/200908_pr.pdf |