2024年07月04日

東レ、高輝度・高耐久シンチレータパネル開発

【カテゴリー】：ファインケミカル 【関連企業・団体】：東レ

東レは4日、非破壊Ｘ線検査の高速化と稼働率向上に貢献する、高耐久な短残光シンチレータパネルを開発したと発表した。 　非破壊Ｘ線検査は、半導体、電子部品、食品など、不良や異物混入などが発生した場合に、社会インフラ停止、自動車事故、健康被害など、大きな社会影響がある製品の品質保証の手段として採用されている。市場も（1）検査装置市場の成長（2）検査対象品種の拡大（3）インライン化による全数検査の採用の3つの要因から年率約10％と高い成長が見込まれている。 　 　今回開発したパネルは、高反射率フィルムをベースフィルムに採用することでパネルの初期輝度を最大21％向上させた。また、輝度劣化が進む原因を解明し対策することで、加速試験後の輝度では従来比最大30％改善した。 　高輝度化と輝度劣化を抑制する2つの技術を融合させることで、高速非破壊Ｘ線検査用に高耐久なシンチレータパネルを実現した。 ニュースリリース https://www.chem-t.com/fax/images/tmp_file1_1720064321.pdf